电子散斑干涉（ESPI）技术是一种非接触式的全场测量技术，具有通用性强、测量精度高等优点，能够直接应用于工程构件的现场测试，也可以实现实时测量及振动测量，测量精度可达波长甚至波长分数的量级，应用广泛，具有很好的发展前景，是现代光测力学的研究热点之一。将实时相移技术引入到一套电子散斑干涉三维变形测量系统，对被测物体进行水平面内位移、竖直面内位移和离面位移的精密测量。
技术指标 有效测量面积： | 250×250 mm2 |
激光器功率： | 100 mW |
测量分辨率： | 优于1/256级条纹 |
实时干涉条纹： | 35帧/s |
实时相移条纹： | 35帧/s |
CCD： | C接口，信噪比56dB |
图像采集分辨率： | 500万 像素 |
定焦镜头： | f=25 mm |
工作距离： | 750 mm |
实时相移技术
应用案例
测量周边固支的圆盘的面内位移和离面位移。其中左图是圆盘的正面图，图中红色圆圈标出了实现面内位移精确加载的精密螺栓，调节该螺栓可使圆盘绕其中心轴作面内旋转运动，产生面内位移。右为圆盘的背面图，同样用红色圆圈标出了实现离面位移加载的螺旋测微仪，通过旋转螺旋测微仪顶起圆盘，实现离面位移加载。
